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上光新光学
 
  • 冲击试样缺口投影仪 CST-50
    冲击试样缺口投影仪 CST-50

    用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,利用光学投影法将被测物的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V或U型缺口标准图形进行比对,以确定被测的冲击试样缺口加工是否合格。仪器操作简便,检查对比直观、效率高,是目前唯一切实可行并能保证质量的检查方法。...

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